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疵検出装置 WireInspectorII : 大石測器株式会社
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μDefectInspector 分離型 μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置 製品カタログ μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置 詳細 μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置 詳細 μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置 製品カタログ μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置 詳細 μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置 詳細 μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置  
μDefectInspector 分離型 NewWireInspector NewWireInspector NewWireInspector WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置 製品カタログ WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置 詳細 WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置 詳細 WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置 製品カタログ WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置 詳細 WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置 詳細 WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置
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μDefectInspector分離型 μDefectInspector分離型 μDefectInspector分離型
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表面欠陥検査装置 NewWireInspector■

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新製品

表面欠陥検査装置 NewWireInspector


「より小さい欠陥」「より速く検出」するを実現しました。


表面欠陥検査装置 NewWireInspector

検査対象寸法  φ0.1 〜 φ13 (検出部交換にて対応)



どこが良くなった?


投光×1  受光×2 の構成(標準) の他に
投光×2  受光×7 の2倍の構成ができます。

検出速度が単純に 2倍 となった。
現行機種 10m/min → 20m/min(計算値)に向上


データサンプリングを、3倍の周期にて実施。

より細かな欠陥を検出する。




モニタ画面(検出ヘッド 4ch仕様)

モニタ画面(検出ヘッド 4ch仕様)


どこが良くなった?


品種毎にNGデータが自動保存される。
保存先も指定でき、測定結果の保存、解析、評価が容易になった。




パラメータ設定画面

パラメータ設定画面




どこが良くなった?


受光素子のゲイン、オフセットの遠隔操作ができ、対象材に対する最適条件を容易に設定できる。




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