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疵検出装置 WireInspectorII : 大石測器株式会社
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μDefectInspector分離型 μDefectInspector分離型 μDefectInspector分離型 μDefectInspector分離型 μDefectInspector分離型 μDefectInspector分離型 NewWireInspector NewWireInspector NewWireInspector 製品カタログ μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置詳細 μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置詳細 μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置製品カタログ WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置詳細 WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置詳細 WireInspectorLine<laser> 表面欠陥検査装置
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微小表面欠陥検査装置 μDefectInspector■

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μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置


諦めていた検査がここに実現! 線状・丸棒・パイプ・チューブ等の表面欠陥をレーザー光線で高速度検出(500m/min)


数μm深さの小さな欠陥を検出 線状キズ、螺旋、打痕、ピンホール、付着物


μDefectInspector 微小表面欠陥検査装置




検出技術


レーザー光技術応用(特許申請済み)


検出できるもの


光を反射するもの(金属、樹脂、紙)線材・丸棒・パイプ・チューブ


形状


円柱、円筒(平板、異型) ※カスタム対応となります


欠陥種類


線状、螺旋、打痕、ピンホール、付着物


欠陥の大きさ


深さ数μmの欠陥


検出速度


500m/min


検出範囲


円周45度検査(円柱、円筒)



■検出の様子

検出の様子


■検出中画面

検出中画面(画面は開発中のもののため変更の場合があります)


■検査装置とPCを専用ケーブルで接続します。

【 主なパラメーター設定 】

NG閾値を設定します。NG1、NG2の2つあります。


【 測定 】

NGデータはPC内に自動保存されます。

.csv形式のファイルが生成されます。



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